缺陷逃逸率

“缺陷逃逸率”，Defect Escape Percentage，简称DEP，是指软件产品发布后发现的缺陷数量与该软件产品在整个生命周期发现的所有缺陷数量的比率，通常用来衡量软件开发团队与测试团队对软件质量控制的水平。
缺陷逃逸率的计算公式一般是：缺陷逃逸率（DEP）= [R2 / (R1 + R2)] * 100%
其中：R1指的是产品发布前发现的缺陷数；R2是产品发布之后所发现的缺陷数。