结论
- 几何结构(SD泄露,SFD聚集)导致中性原子在靶板附近聚集,同时该区域存在强烈的再循环,导致该区域低价碳杂质含量显著增加。
- 中性氘在该区域存在非常强烈的电离,导致该区域D+密度显著增加,显著增加辐射,降低靶板温度
- 碳杂质一样,同时由于non-coronal 效应,对流增加输运,D辐射显著增强,降低靶板温度的印象,导致该区域碳辐射显著增加
- 靶板附近D杂质的聚集,导致摩擦力增大,显著抑制杂质反流。同小的入射角度,更低的沉积粒子流,小角度鞘层抑制二次电子发射,导致外靶板溅射显著降低有效的提高了靶板寿命。同时碳杂志在靶板区域的聚集,进一步降低了芯部的杂质含量,从而获得更好的杂质屏蔽效果。
- 更低的碳含量,但是由于碳主要分布在靶板,同时该区域伴随着辐射的显著增加,导致了跟梢的碳含量碳辐射却显著增加。而对于D,中性聚集以及高达3倍的电离是D辐射也显著增加。
- SFD inter-null 之间显著的低极向场区域,带来靶板附近显著的流扩张,更长的连接长度,跟大的辐射体积,等优良的辐射特性。同时由于靶板区域地极向场驱动的对流导致PFR的输运显著增加,导致热流的向多打击垫风险,以上因素共同导致SFD外靶板热流显著降低。
- 研究发现,随着增加,靶板温度以及热流SFD显著降低,同时总辐射SFD更高,且高功率下主要是碳辐射,表明SFD在高功率下的优势。
下一步工作
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- 虽然,SFD在外靶板有更好的辐射特性,但内靶板温度SFD温度更高,碳辐射没有显著增加,这从侧面说明影响靶板结构对杂质辐射影响强烈
- 将考虑drift,看是否能够缓解内外不对称性
- 中性和碳在外靶板区域聚集,是否注入杂质也是如此,注入杂质住状态下的SFD更加辐射实际,此时能够有效获得更好芯部约束至关重要
- 研究靶板倾角以及靶板类型(水平或者垂直)对等离子的影响。
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