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芯片测试之输入漏电流

芯片测试之输入漏电流

作者: 罐头说 | 来源:发表于2022-01-18 18:33 被阅读0次

针对数字电路,有相应的输入低电平漏电流(IIL input leakage low)和输入高电平漏电流(IIH   input leakage high);

测试过程:

首先是对电源施加电压应该为最大电压(VDDmax),这是测试漏电流的最严厉的条件。

测试输入低电平漏电流(IIL)

被测引脚用PMU施加VIL(0V),其他的引脚施加高电平VIH=VDDmax,然后测的电流为IIL(负值);

测试输入高电平漏电流(IIH)

被测引脚用PMU施加高电平(VDDmax),其他的引脚施加低电平(0V),然后测的电流为IIH(正值);

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