芯片测试之输入漏电流

针对数字电路，有相应的输入低电平漏电流（IIL input leakage low）和输入高电平漏电流(IIH   input leakage high)；

测试过程：

首先是对电源施加电压应该为最大电压（VDDmax），这是测试漏电流的最严厉的条件。

测试输入低电平漏电流（IIL）

被测引脚用PMU施加VIL(0V),其他的引脚施加高电平VIH=VDDmax，然后测的电流为IIL（负值）；

测试输入高电平漏电流（IIH）

被测引脚用PMU施加高电平(VDDmax),其他的引脚施加低电平（0V），然后测的电流为IIH（正值）；