芯片测试之连接性

芯片测试的第一步就是测试芯片的连接性，也称为开短路测试(open/short test)，它是利用电路的保护电路进行测试。下图为电路的保护电路：

管脚保护二极管结构

通过ATE对管脚加电流测电压来测试，在实际的测试过程中，对地与对电源的保护二极管测试时通过控制对管脚的电流方向来完成的，通常以ATE为参照，流出ATE的电流为正电流，流入ATE的电流为负电流。

当对管脚输入正电流时，对电源的二极管导通，正常的导通电压为0.7V左右，而当对管脚输出负电流时，对地的二极管导通，正常的导通电压为-0.7V左右；

对电源保护二极管开短路测试 对地保护二极管的开短路测试

当开路时，认为电阻很大；当短路时，认为电阻很小，二极管已经没有压降了；