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2020-03-03non-coronal radiation

2020-03-03non-coronal radiation

作者: 锅炉工的自我修养 | 来源:发表于2020-03-03 23:47 被阅读0次

    non- coronal radiation

    C S Pitcher PPCF 1997


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    1. 提高等离子体边界辐射的另一个关键因素,是邻近的杂质源和迅速的离子输运。
        1. 事实上,边界杂质不总是在等离子体中足够的时间,达到日冕平衡。
        1. 在日冕平衡中,我们忽略如下辐射:Be>10eV,B>20eV,C>30eV,O>40eV。实验中测到这些离子在超过40eV时,在芯部边界和SOL有显著的辐射。
    2. 边界的杂质比他们在平衡中时有更多的电子,因此可以发现辐射水平显著提升。
        1. coronal平衡表示一种杂质的辐射最低水平。
        1. 用residence parameter n_{e}\tau_{res}表示,\tau_{res}为杂质在等离子体中的residence time
        1. 在30eV,低水平的日冕辐射功率会被提升接近1000倍。
        1. 这个提升随着杂质周期时间急剧下降,通过n_{e}\tau_{res}~10^{17}s m^{-3},下降30倍从峰值到L_{z}<10^{-32} W.m^{3}
        1. residence parameter作为重要的弛豫时间,例如碳杂质辐射和无辐射的阈值。
    3. 使用这个重要的弛豫,我们可以估计芯部边界辐射区域的径向宽度,通过评估杂质输运的比率。
        1. Fig3,AUG中等密度欧姆放电,n_{u}~10^{19}m^{-3}在芯部边界
        1. 使用上述参数,我们发现杂质停止辐射的时间是\tau_{res}>0.01s
    4. 辐射区域的径向扩展区域,例如芯部边缘辐射宽度\lambda_{rad}(section3中定义),可以通过跨场扩散进行估算
        1. \lambda_{rad}~(D_{\perp}\tau_{res})^{1/2}
      • 假设D_{\perp}~1m^{2}.s^{-1},\lambda_{rad}~0.1m,和实验上观测的接近
        1. 由于在SOL中平行输运时间(~10^{-3})对比跨场输运时间较短,跨场输运时间占主导
    5. 可以估计芯部边缘的辐射总量使用如下公式:
      • P_{rad}=n_{e}n_{Z}L_{z}V,n_{z}是杂质密度,L_{Z}是辐射功率系数,V是辐射区域的辐射体积。
      • 对于低Z杂质,低温时L_Z更大。
      • non-coronal辐射增加L_{Z}
        1. n_{Z} ~ 0.02n_{e}(Z_{eff} ~ 1.7),L_{Z} ~ 3 \times 10^{-32} W.m^{3},periphery volume V=A_{P}\lambda_{rad}~5m^{3}
        1. 带入数据,我们得到P_{rad,main} ~ 0.35MW,这个估计只是近似的,他被用来证明杂质处于non-coronal equilibrim 时L_{Z}的增加。
        1. coronal radiation近似为P_{rad,main}~0.003MW,小两个量级
        1. 精确的杂质辐射估计,需要sophisticated code,例如B2-eirene

    A simple model for divertor impurity radiation

    equation(2)

    1. 推导一个简单的靠近偏滤器的杂质辐射的模型
      • parallel electron heat conduction:q=-\kappa_{0}T^{5/2}\frac{dT}{dx}
      • q(x)是平行热流密度,在靠近挡板时会下降,由于体复合损失。T是等离子体温度(能量单位)
      • \kappa_{0}=\frac {(4\pi\epsilon_{0})^{2}} {m_{e}^{1/2}ln \Lambda e^{4}Z}
      • \epsilon是真空介电常数,m_{e},e是电子质量和电荷,respectively。ln \Lambda~15是库伦对数
      • Z是等离子体的有效电荷数,假设Z=1(kappa_{0}~1.3 \times 10^{69} in MKS units)
      • 离子公式相同,假设T_{i}=T_{e},离子热传导小于电子热传导

    equation(44)

    1. volumetric power loss due to impurity radiation
      • \frac{dq}{dx}=n_{Z}nL_{Z}=-c_{Z}n^{2}L_{Z}
      • c_{Z}是杂质浓度,假设沿着SOL的为常数。
      • 假设低于T_{thr}~5eV为零,高于T_{thr},L_{Z}为常数
    2. 联立equations(2)和equations(44),从上游到再循环入口积分
      • q_{u}^{2}-q_{r}^{2}= \frac{1}{3} \kappa_{0}c_{Z}L_{Z}p^{2}_{u}(T_{u}^{3/2}-T_{x}^{3/2}) (45)
      • q_r是到达再循环入口的平行功率密度,T_{x}为比阈值温度大多少,或者是再循环区域的温度T_{t}p_{u}是上游电子和离子的总压强(常数)
      • 假定c_{Z}和L_{Z}是空间常数,定性理解平行热传导的体积辐射损失
    3. equation (45)两点问题
        1. 体积功率损耗,由于杂质辐射产生的与温度梯度相关。
      • 实际上平行温度梯度在偏滤器附近变化剧烈,从而保证大部分辐射发生在靶板附近。
        1. 辐射损失显著依赖上游压强,主要是n_{u},因为T_{u}相对不敏感

    equation (5)

    T_{u} \approx ( \frac{7q_{u}L}{2\kappa_{0}})^{2/7} (5)
    - 上游温度不依赖偏滤器状态,只微弱依赖经过SOL的功率密度和连接长度。

    1. Fig12,简单模型预测的偏滤器辐射


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    equation (4)

    • T_{u}^{7/2} \approx T_{r}^{7/2}+ \frac{7q_{u}L_{r}}{2\kappa_{0}} (4)
    • T_{u},q_{u}是上游电子温度和功率密度(x=0)。T_{r}是再循环区域入口的温度,假设和靶板温度T_{t}相同。L_{r} \approx L,(L为到偏滤器的连接长度)
      • equation(4)近似有效,详细的计算表明,即使在高辐射流管的情况下,因为此时辐射倾向于局限在偏滤器区域,因为此区域密度提升。

    qP=n_{t} cs_{t} \epsilon_{pot} (8)

    • qP是电势功率,\epsilon_{pot}是每个入射离子的电势能。包括D的电离电势(13.6eV)和一半的氢分子结合能(2.2eV),\epsilon~16eV(常数)。当体复合没有出现,电势能假设以热能的形式沉积在靶板上,当如何离子中性化,或者原子复合成分子。

    equation (10)

    • 功率dispersal最重要的参数是SOL的衰减长度。
    • 衰减长度通过,猪等离子体的跨场热传导和到达偏滤器的平行热传导的比值决定
    • P_{SOL}=A_{p}n_{u}\chi_{\perp}( \frac{T_{u}}{\lambda_{T}}) (10)
    • A_{p} \approx 2\pi a \kappa^{1/2} 是等离子体的表面积,R_{0}是主半径,a为水平小半径,\kappa是elongation(\kappa=b/a),\chi_{\perp}为反常跨场热传导系数(\chi_{\perp}=\chi_{\perp}^{i}+\chi_{\perp}^{e}),\lambda_q为LCFS的径向温度的e-衰减长度。

    接Fig12
    - 杂质辐射计算q_{imp}=q_{u}-q{r}

    equation (33)

    • q_{r}=q{u}-q_{imp}=q_{Hrad}+q_{K}+qP
    • q_{imp}是杂质辐射导致的辐射损失,假设杂质辐射主要发生在偏滤器区域,不在循环区域,因此流经SOL的q_{u}大部分flux tube是守恒的,当进入再循环区域降低
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      • 假设杂质辐射发生在靠近偏滤器区域,在较大的平行温度区域。
      • 对于AUG,主导的杂质是C,密度扫描含量近似为常数(c_{Z}0.02),和可视化韧致辐射测量一致(Zeff1.7)
      • 模型使用此浓度,辐射系数L_{z}=2.5 \times 10^{-32} W m^{3}

    SOL等离子体状态Fig 8

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    - 选择和实验结果符合,和Fig11的non-coronal 计算不一致。杂质辐射分散的计算由equation(45)决定

    equation 45

    • H辐射使用(26)

    equation (26)

    • q_{Hrad}=n_{t}cs_{t}\epsilon_{rad} (26)
    • \epsilon是等离子体密度和温度的函数,假设为常数15eV.
    • 总的D辐射相比杂质辐射是小的

    接Fig12

    • 模型可以再现,杂质辐射随密度迅速增加,和Fig8一致

    1. 简单的模型对于AUG数据出乎意料的好,但并非对所有数据都适用。(特别是假设沿着flux tube的杂质浓度不变)
      • AUG符合较好,因为碳源主要是涌入的碳氢分子,进入放电在偏滤器和主舱室。
      • 简单模型主要阐明,考虑热传导热源时,体功率损失的特性。
      • 有助于理解有助于脱靶的状态。

    1. Fig13 L-mode,11MW NBI加热,JT-60U
      • JT-60U主导杂质是碳,全碳装置。
      • 和AUG结果相同,辐射增加迅速超过线性放电密度,碳氢化合物对辐射的贡献较小,主要的辐射是C IV,C II和C III的辐射烃辐射相当。

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