美文网首页低压电器的那些事
电器理论基础(11)GD&T 几何公差之原则差异

电器理论基础(11)GD&T 几何公差之原则差异

作者: switch_王思维 | 来源:发表于2024-03-09 09:29 被阅读0次

    GD&T 是一种用符号来表达零部件几何尺寸与公差的方法,是一种用来描述零件的尺寸、形状、方位和定位策略等特征的精确的数学语言,也是一种关于设计和标注零件的设计思路。

            GD&T 为了满足零件设计制造质量和装配精度要求,保证零部件的互换性和制造经济性,使用GD&T语言表达设计要求拥有比传统正负公差表达具有测量原点鲜明、累积公差最小化、提高信息交流、改善产品设计、在满足装配要求的前提下放宽生产公差、降低制造成本等优点。

              GD&T几何尺寸公差有两大标准: ASME Y14.5和 ISO 标准。(我国采用的是ISO标准)。两大标准90%的内容都是相同的,但仍有一些差异的地方。

    今天主要说一下,两大标准的使用原则差异:

    在ASME Y14.5和 ISO标准 中,包容原则和独立原则都是比较重要的存在,且两种的原则的含义都是类似的。

    独立原则:设计图样上给定的形位公差与尺寸公差相互无关,应分别满足要求的公差原则。形位公差不随实际尺寸改变,尺寸公差也不随形位误差改变。

    包容原则:指尺寸要素的尺寸不仅控制大小,而且控制其形状。形状由最大实体状态MMC控制,尺寸要素的表面不能超出最大实体状态的边界

    差异点

    ISO标准: 默认原则是独立原则,使用包容要求时需要添加符号:E 圈

    ASME标准:默认原则是包容原则,使用独立原则需要添加符号:I 圈

    总结

    相关文章

      网友评论

        本文标题:电器理论基础(11)GD&T 几何公差之原则差异

        本文链接:https://www.haomeiwen.com/subject/cyclzdtx.html