XD非冠装效应增加辐射已于脱靶
Zhongping Chen 2020 NF DIII-D
小结:
- 从已有的理论,及解释分析问题
- 对每个网格的数据进行操作
- 辐射定量化分析
- 抓住核心问题
- 明确物理概念。
- 6.工作重心转移数据分析。
Abstract
- DIII-D实验证明,XD可以增加碳的线性辐射,相同的脱靶态,只需要SD一半的上游密度
- 在由于XD显著增加辐射体积,由于非冠装效应显著增加碳发射
- 机制包括碳杂质的平行和垂直输运,以及与D中性粒子的电荷交换
- 模拟数据支持的物理模型表明,极小的场线夹角在XD中起到相当重要的作用
场线夹角的影响: field angle 是不是pitch角
靶板和磁场线的夹角是怎么计算的?
- pitch做什么处理?
- qc,和qs的关系?
- 2D 磁场线与靶板的夹角是什么?
Introduction
- XD的优势
- 降低靶板热流
- 低密度脱靶
- 相同的脱靶状态,更高的上游电子温度
- 靠近靶板稳定的脱靶前。抑制上游迁移
- 为什么XD辐射更多的功率?非冠状效应,辐射效率提高一个量级
- 主要原因是磁场角度
- 模拟结果+物理机制
什么是no-coronal effect
如何提高脱靶前的稳定性?(mechanism)
simulation setup
image.pngSD为horizontal target 和之前的结果对比(未修改位型)
- 下偏滤器限制XD在径向方向,SOL宽度10mm;SD流扩张不明显,因此没有限制
同样,SOL 15mm,SD无限制
- 不同的SOL宽度,探究不同的影响
- 固定芯部密度
- 化学溅射0.01,物理建设RB,6WM,输运系数0.15,0.5,粘滞0.2
粘滞系数怎么设置
h-mode
计算方式?
- 无漂移
能够加上漂移
- eirene过程包括中性和原子过程。电离,复合,电荷交换,辐射
- 再循环100%
image.png所有粒子?还是只有
pump在外偏滤器
相同位置,两个抽气口的影响。
局部增加分辨率技术
Detachement conditions
- 脱靶的多种定义
- 脱靶不是在真个靶板同时发生的
- 使用温度定义的脱靶<2eV
温度定义脱靶
- 选择0.3mm flux tube。
只考虑一个 flux tube
- 脱靶阈值——XD3.4e19 vs. SD 6.3e19 6.5e19SD20
- 两种偏滤器位型存在着完全不同的全脱靶状态:SD脱靶电子温度1.6eV和3.8eV;XD脱靶在SOL附近电子温度<4eV。远SOL依然attach温度峰值=16eV。flux tube=6.5mm
image.png描述不同的脱靶状态
SD接近全脱靶,XD部分脱靶(满足功率要求时)
- 部分脱靶更有利于将中性限制在PFR以内
部分脱靶,如何将中性离子限制在PFR区域?
- 场线夹角,表现出中的变化,对比XD巨大的径向和极向变化。
- 小的夹角可以增加辐射,易于脱靶。
理论基础?
- XD在SP附近有很小的夹角,但是在far SOL有更大的夹角,表现出显著的温度梯度(SP脱靶——far SOL attached)
XD靶板出场线夹角的非均匀分布。
通过温度筛选网格,查看辐射,碳杂质占比,辐射占比。
- 垂直靶板温度梯度是SD的两倍。
更高的温度梯度,驱动更多地热流。
- 三维空间近似满足两点模型,XD更低的场线夹角,产生更大的温度梯度
确认SFD 是否有更大的温度梯度
- 关注分析两种位型的脱靶flux tube,解释为什么XD低密度脱靶
- 碳线性辐射在内31%的能流进入XD,SD只有6%.
选中所在的flux tube
- SD极度依赖中性氘辐射和电离冷却。因此需要更高的D密度实现脱靶。
image.pngSD 不能受益于no-coronal effect,更加依赖D辐射
- 辐射功率低于1MW.m-2。除了打击点附近。
- 高的辐射区域解释80%的碳辐射,仅占5%的辐射体积
高辐射区域的辐射功率占比 28定律。辐射数值定量化
- XD有更大的辐射体积。高碳辐射区域有着电子温度变化的限制。如果内外偏滤器温度变化相同,XD辐射只会径向扩张,极向压缩,保持总辐射体积不变化。
解释辐射区域为什么之中在靶板附近,小夹角,no-coronal效应。还是碳聚集。
必须了解什么是no-coronal effect
- XD更大的辐射体积,扩展了温度的变化范围,导致更强的碳辐射。
FX导致SP温度很低,显著增加了碳辐射,很小的碳辐射区域,却占据了极大的总辐射量
较大的温度变化范围,使最有利于碳辐射的温度出现,此温度范围的辐射占比多少可以定量计算。
可以操作每一网格的所有数据,只要知道算法。
- 只考虑流管的数据
no-coronal effects
- 在日冕图片中,碳的平均电离价态只是电子温度的函数,因为碳杂质有无限的生命周期,背景等离子体保证不经过与原子的电荷交换达到平衡电离状态。
- 碳发射取决为总的碳杂质密度,也是日冕辐射的温度参数。
理想状态,温度的单值函数。
低价碳是辐射的主力? 计算不同价态的辐射总量。
- 非日冕效应引入其他参数
驱动系统拜托日冕平衡的两个因素:杂质输运和电荷交换
- 这两个因素都让碳的价态平行倾向于更低的价态——有更强的线性辐射
更多的低价碳,更多的辐射。
- 导致系统处于非日冕平衡时,碳杂质的线性辐射损失显著增加。
- 碳的<Z>和<发射>都可以作为定量测量非日冕效应的度量标准——通过展示碳寿命与D中性密度的依赖关系
-
ADAS数据库表明,非日冕效应在之指定温度范围内,会两只增加碳发射
image.png - 计算碳的发射和Z每个计算网格。2eV为温度变化单位,用总的碳辐射作为权重因子
计算权重,不太发明白
- 结果表明,碳杂质经历强烈的非日冕效应。这可以解释巨大的径向体积梯度(Fig3)
杂质输运
- 日冕图片,需要无限的背景等离子体,换句话说是无线的碳杂质寿命。
- 真实偏滤器碳的寿命是有限的,当达到平衡价态时会退出等离子体。
- 更短的,碳处于低价态(给定的温度),并且有更强的线性辐射
- ——碳发射在附近会增加一个量级,这在偏滤器靶板附近非常重要,因为这里输运非常强烈
- 平行输运和垂直输运受到磁场集合的显著影响,特别是磁场的夹角。
- 对于碳杂质的平行输运。D的再循环过程起到重要作用,在挡板附近,因为中性再循环引入SOL的粒子源
- 粒子流,必须输运粒子背朝靶板,以保证粒子守恒。
产生反流的原因,详细查看。
- 背景流,导致摩擦力主导的碳粒子。清除碳杂质原理等离子体到靶板
- 靶板附近的场线夹角能够显著影响输运过程。
- 相同的传播距离,中性到达更远的上游沿着更水平的场线(小角度)因此扩展电离源到更远的上游。导致更大的背景等离子体流,导致与碳杂质更强的摩擦力
解释为什么摩擦力更强
- XD有更高的氘电离源,(更高的中性比率)和更强的碳平行输运。和靶板附近小角度是一致的。
- 垂直输运也需要考虑场线夹角
- 存在指向挡板(溅射源)的极向碳杂质密度梯度
- 反常输运导致碳朝向上游的扩散。
- 极端情况下,场线垂直挡板。扩散为完全平行输运,没有径向输运。
垂直情况下,没有径向输运的影响
- 评估碳周期的简单模型,定量比较两种位型的输运
平行输运
是碳粒子流平行速度。为场线距离,为连接长度
垂直扩散
为每一个网格的垂直距靶板
平均存活时间
计算每一个网格,然后加上温度bins的权重
-
结果表明,XD有更前的杂质输运是碳的寿命减少
image.png - 注意到总的单调增加从靶板到上游的每一个网格,但是平均时间并非与温度轴一致,因为径向温度变化从每一个流管中,特别是XD
电荷交换影响
- 电荷交换复合出现在中性转移过程朝向低价态
使系统远离日冕平衡 - 作为电荷交换度的指标
- ADAS数据库表明,在电荷交换增加碳发射一个量级,在20~40eV,当对SD的影响较小,因为SD20~40eV远离靶板(),的比值很低
- 在XD中电子温度梯度很大,导致接近再循环源。
温度梯度大,靶板附近有较低的温度。
- 模拟表明,XD可以增加在,显著增加碳发射
- XD低密度脱靶使有更长的平均自由程,是一个额外的优势
低密度,更长的自由程。更高的密度。
Discussion
- 简单模型比较碳发射,每一网格的计算,将四个参数应用到ADAS数据库,插值碳发射率(包括非日冕效应,输运和电荷交换)
- 使用相同的加权平均。结果与的XD一致,强烈的非日冕效应,XD的碳发射比SD高一个量级。
- 由于发生流反转和可能改变符号,在更高的温度(指向上游,而不是靶板)
- 公式1可能会导致负值,对于负的我们使用日冕平衡,对于更高的温度区域,远离靶板,造成下降
- 稳定的反馈,XD具有独特的分离特性:非日冕效应的影响和倾角的关系,表明,脱靶前向上游移动,非日冕效应的影响会随着倾角的增加而减小,导致碳线辐射萎缩。这个负向反馈会导致脱靶在靶板附近的稳定。降低芯部约束的降低
倾角与碳杂质聚集的关系。还是no-cornal效应的影响。
Conclusion
- 非日冕效应,增加碳发射一个量级,增加靶板附近的辐射体积,导致脱靶阈值降低,新的物理发现:
- 倾角是决定非日冕效应程度的主要参数。XD靶板附近小的倾角,产生一个非日冕效应的优良区域
- 相同的效应可以通过倾斜靶板实现(垂直靶板)???
是靶板倾角的影响,还是低极向场区域的影响?
no-coronal能够解释碳杂质聚集?
no-cornal来解释碳辐射的增加是否足够?
- 小的入射角,ITER极向入射∠ ,边界和垂直靶板。和水平的靶板相比,场线夹角降低一半。
- 下一步将探究倾角足够小,将在下一步工作中探究
- 角度扫描,将会探究是否存在一个角度,非日冕效应关闭。
- 在高功率下,这些效应显著提高,高输入功率,导致挡板附近叫较高的温度梯度,减小磁场倾角
为什么在高功率显著增加?SFD的的上游密度会更高,对应的下游参数会更接近脱靶。
是否需要feedback,含碳feedback不可行。
- 12 MW的模拟表明XD和SD的显著不同,XD的优势在高功率更加显著。(56%的降低脱靶阈值)
- 计划进行全参数扫描在输入功率。
- XD在高功率下的优势
小倾角的结合特征,会导致可以显著控制功率。保护靶板远离交换事件的影响(ELMs)。
- ITER使用鱼尾偏滤器和偏滤器倾斜。利用更低倾角。
倾角具体指什么
- XD在稳定的脱靶状态,辐射主导热沉积。
- flaring(XD定义的特性),提供稳定的反馈控制,允许辐射区域,远离靶板一定距离,抑制脱靶前项上游移动
- 因此,瓦片的好的结构导致变得不可见对等离子体和场线。
- 关注燃烧等离子体的高功率表现。
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