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电器理论基础(12)GD&T 几何公差之形位公差使用差异(位置度

电器理论基础(12)GD&T 几何公差之形位公差使用差异(位置度

作者: switch_王思维 | 来源:发表于2024-03-15 18:07 被阅读0次

    位置度作为几何公差界最有用、使用最广泛且最复杂的几何公差符号,位置度很重要且调用方式也很多。

    今天我们来说一下,两大标准中位置度的使用差异:

    1.两大标准中使用范围不同:

      美标ASME位置度不允许约束表面位置;  只允许约束FOS尺寸要素的轴线或中面(导出要素)位置;

      欧标ISO位置度允许约束表面和FOS尺寸要素的位;

      举例说明:

      美标ASME规定,位置度可以用于中心线、中面等导出要素。绝对不能用于平面。

    欧标ISO规定,位置度可以用于组成要求(平面)和导出要素(中心线和中心面)

    2.被测要素不一样(针对导出要素):

    美标ASME位置度约束的对象(被测要素)是实际圆柱孔的最大配合拟合圆柱的轴线(CenterLine)。

    欧标ISO位置度约束的对象(被测要素)是实际拟合圆柱的每个截面拟合圆的圆心连线(中心线 Median Line)

    标注一样,含义不一样

    美标的被测要素是:实际孔的内包容圆柱AME(Center Line - Axis) 中心轴线)

    欧标的被测要素是:欧标被测要素: Median Line (实际拟合的弯曲圆柱的中心线)

    总结:

    美标位置度不允许约束表面位置, 只允许约束FOS的轴线或中面(导出要素)位置; 欧标位置度允许约束表面位置美标位置度约束的对象(被测要素)是实际圆柱孔的最大配合拟合圆柱的轴线(CenterLine);

    欧标位置度约束的对象(被测要素)是实际圆柱孔的每个截面拟合圆的圆心连线(中心线 Median Line)

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