【海拓仪器】
国内首创：打破国外垄断；填补国内空白。IC芯片高低温测试/半导体芯片温度冲击测试/微电子温度循环冲击测试。
温度控制能力：-80～+200
温度变化速率：+125～-55仅需15秒
联系人：刘先生
电 话：15190598239
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客户使用现场图
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技术参数
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本文标题：IC芯片高低温测试/半导体芯片温度冲击测试/微电子温度循环冲击测
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